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  • XRF涂层厚度测量

    XRF涂层厚度测量L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件,L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。封闭式样品仓可容纳12“x22“x24“(LxWxH)的样品。XY平台的行程为13“x10“。

  • 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列

    博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件,L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。封闭式样品仓可容纳12“x22“x24“(LxWxH)的样品。XY平台的行程为13“x10“。

  • 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列

    博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列是博曼zui具性价比的一款机型。该机型机构紧凑,没有可移动部件。与博曼其他系列不同,该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上,并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小,可手动调整样品位置测量样品,该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。

  • 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列

    博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式,配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。样品仓采用开槽配置,但没有可编程的XY样品台。

  • 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 P系列

    博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪P系列提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。

  • 博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列

    博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪O系列采用毛细管光学结构,拥有精准的测试性能,同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器,在短时间内捕捉并处理大量数据,在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取精准的测量结果(准确性和重复性)。

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