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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列

简要描述:

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列采用毛细管光学结构,拥有精准的测试性能,同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器,在短时间内捕捉并处理大量数据,在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取精准的测量结果(准确性和重复性)。

更新时间:2020-03-06

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博曼O系列产品概述:

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列采用毛细管光学结构,拥有精准的测试性能,同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器,在短时间内捕捉并处理大量数据,在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取精准的测量结果(准确性和重复性)。

该系列采用80μm毛细管光学结构,同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。O系列的相机具有更大的放大倍数,拥有45x视频放大和5x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近,所以使用时样品必须平整。

 

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列可满足以下类型用户的需求:

- 极小的样品,如半导体,连接器或PCB

- 需要测试多个样品的多个位置

- 需要测量非常薄的涂层(<100nm)

- 需要在短时间内完成测量(1-5秒)

- 符合IPC-4552A

 

博曼O系列产品参数:

类别

参数

元素测量范围:

X射线管:

探测器:

分析层数及元素数:

滤波器/准直器:

焦距:

数字脉冲器:

计算机:

 

相机:

电源:

重量:

可编程XY平台:

样品仓尺寸:

外形尺寸:

13号铝元素到92号铀元素

50 W钼钯射线管 80um毛细管光学结构

135eV及以上分辨率的硅漂移探测器

5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析至多可分析25种元素

2位置一次过滤器

固定焦距(0.1")

4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X双摄像头或45X单摄像头

150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

53kg

平台尺寸:15"x 13"| 行程:6"x 5"

高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:340mm(13")

高度:450mm(18"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24")

 

关于美国博曼:

美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。

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