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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 P系列

简要描述:

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪P系列 提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。

更新时间:2020-03-06

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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪P系列产品概述:

P系列提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序,通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。

标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的。

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪P系列

可满足以下类型用户的需求:

小型镀件领域,如紧固件,连接器或PCB

- 需要测试多个样品的多个位置

- 期望在多个样品上实现自动测量

- 样品尺寸和应用经常变化

- 符合IPC-4552A

 

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪P系列产品参数:

类别

参数

元素测量范围:

X射线管:

探测器:

分析层数及元素数:

滤波器/准直器:

焦距:

数字脉冲器:

计算机:

 

相机:

电源:

重量:

马达控制/可编程XY平台:

延伸可编程XY平台:

样品仓尺寸:

外形尺寸:

13号铝元素到92号铀元素

50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

5层, 每层可分析10种元素,成分分析至多可分析25种元素

4位置一次过滤器/4种规格准直器

可变焦

4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

32-50kg

平台尺寸:15"x 13"| 行程:6"x 5"

平台尺寸:25"x 25"| 行程:10"x 10"

高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:335mm(13")

高度:450mm(18"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24")

关于美国博曼:

美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。

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