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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列

简要描述:

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式,配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。样品仓采用开槽配置,但没有可编程的XY样品台。

更新时间:2020-03-06

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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列产品概述:

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式,配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。样品仓采用开槽配置,但没有可编程的XY样品台。

B系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。

 

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列

可满足以下类型用户的需求:

- 样品测试量相对较小

- 样品仅需测量一个位置

- 大型线路板镀层的抽检

- 预算有限但希望日后仪器性能能有所提升

- 符合IPC-4552A

 

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 B系列产品参数:

类别

参数

元素测量范围:

X射线管:

探测器:

分析层数及元素数:

滤波器/准直器:

焦距:

数字脉冲器:

计算机:

 

相机:

电源:

重量:

马达控制/可编程XY平台:

延伸可编程XY平台:

样品仓尺寸:

外形尺寸:

13号铝元素到92号铀元素

50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

5层,每层可分析10种元素,成分分析至多可分析25种元素

4位置一次过滤器/单规格准直器

激光固定焦距(可选多焦点)

4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

34kg

不可用

不可用

高度:140mm(5.5"),宽度:310mm(12"),深度:335mm(13")

高度:450mm(18"),宽度:450mm(18"),深度:600mm(24")

 

关于美国博曼:

美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。

 

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