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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列

简要描述:

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件,L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12“x22“x24“(LxWxH)的样品。XY平台的行程为13“x10“。

更新时间:2020-03-06

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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列产品概述:

L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件,L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12"x22"x24"(LxWxH)的样品。XY平台的行程为13"x10"。

标准配置包括一个4位置多准直器组件,以及一个可在凹陷区域进行测量的变焦相机。 与其他型号一样,准直器尺寸和焦距可根据不同的客户应用进行定制。 包括可编程的XY平台,为了满足更大样品测测量,XY平台可以移除。探测器采用硅PIN半导体探测器,可升级为高性能SDD探测器。

 

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列

可满足以下类型用户的需求:

- 样品的长宽高分别超过12"但小于24"

- 需容纳多个样品进行自动化多点测量

- 可扩展到更大尺寸的样品,用于未来的项目

- 符合IPC-4552A

 

博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 L系列产品参数:

类别

参数

元素测量范围:

X射线管:

探测器:

分析层数及元素数:

滤波器/准直器:

焦距:

数字脉冲器:

计算机:

 

相机:

电源:

重量:

可编程XY平台:

样品仓尺寸:

外形尺寸:

13号铝元素到92号铀元素

50 W(50kV和1mA)微聚焦射线管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

5层,每层可分析10种元素,成分分析至多可分析25种元素

4位置一次过滤器/4种规格准直器

可变焦

4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

110kg

平台尺寸:10"x 10"| 行程:10"x 10"

高度:280mm(11"),宽度:550mm(22"),深度:600mm(24")

高度:750mm(30"),宽度:700mm(28"),深度:750mm(30")

 

关于美国博曼:

美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。

 

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