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  • 薄膜厚度测量仪

    薄膜厚度测量仪以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件的模拟演算法设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。

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